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发掘地下宝藏 | XRF 分析仪在贵金属勘探中的应用

更新时间:2025-01-06 点击次数:81

随着全球对贵金属需求的增加,矿业公司正在寻找更快、更经济的方法来探测和评估这些珍贵资源。继上期介绍了朗铎科技为矿业和矿物加工行业提供全方位解决方案后,本期我们将深入探讨这项便携技术如何在贵金属勘探中实现突破

 

场景重现:精准定位贵金属

 

贵金属,如金、银和铂族元素(笔骋贰),通常在地下深处难以触及的地方蕴藏。传统的勘探方法不仅耗时而且成本高昂。

 

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然而,通过使用尼通手持 XRF 分析仪,地质学家现在可以快速识别含有这些贵金属的区域,即使是在浓度极低的情况下。

 

1、应用实例

在南非布什维尔德杂岩体,包括梅伦斯基礁和上组2礁(UG2),其中赋存了大量的PGE。这些地层主要由辉石岩、斜长岩和变性橄榄岩组成,典型的PGE品位为3-10 g/t。为了研究手持 XRF 分析仪对PGE勘探的应用,沿地层剖面采集了63个样品。然后由商业实验室 (SGS-Lakefield) 使用ICP分析样品。使用尼通手持 XRF 分析仪对这些样品进行了两种形式的分析(直接照射样品和粉碎样品-浆料)。

 

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图1.南非布什维尔德杂岩体中目标元素(Pt、Pd和Au)和探途元素(Cu和Ni)的地层分布表明,使用尼通手持 XRF 分析仪进行的Cu和Ni分析可用于定位Pt、Pd 和 Au矿化带。

 

 

2、结果

通过实验室分析发现探途元素狈颈和颁耻与目标贵金属笔迟、笔诲和础耻具有显着的正相关性。这表明狈颈和颁耻可以有效地用作指示贵金属位置的探途元素。通过使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析仪对这些探途元素进行分析,结果证实了它们能准确地定位含有高浓度笔迟、笔诲和础耻的地层

 

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图2.使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析仪分析PGE探途元素。

 

 

尼通 XL3t 手持 XRF 分析仪

 

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产物特点

1

标准分析范围:从镁到铀的多达30余种元素(根据应用不同而异)。

2

用于手持 XRF 分析的功能更加强大的X射线管。

3

一键式测定&尘诲补蝉丑;&尘诲补蝉丑;极易使用,非专业技术人员也能很快掌握。

4

面向实际工业环境的耐用型设计。

5

提供原位无损的即时分析。

6

完整密封,防水防尘。

7

符合人体工程学设计。

8

显示屏在强日光下仍清晰可读。

9

提供多种语言选择。

10

彩色触摸屏显示器。

 

 

本文结论

 

随着金属价值的增长和矿物品位的降低,手持 XRF 技术证实了其在提升贵金属勘探效率和降低成本中的关键作用。使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析仪能在野外快速精准定位贵金属,显着提高决策速度和精度。

 

这种实时分析技术不仅节省时间和资源,还提升了现场操作的经济效益,为贵金属勘探提供了一种高效的解决方案。

 

 

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